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在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執行表面粗糙度和輪廓測量。
根據測量任務，可使用 GD 25 驅動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統通過組合支架固定到測量立柱。
·節省空間型設計：兩個驅動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
·一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
·使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和極高的分辨率
· 只需在軟件平臺內進行切換并更換驅動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
技術數據
接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 | 25 |
掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
分辨率 | Z 方向，相對探針針頭：0.38 μm（350 mm 測桿）/ 0.19 μm（175 mm 測桿） Z 方向，相對測量系統：0.04 μm |
掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77° |
定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
導塊偏差 | < 1 μm（200 mm 以上） |
測量原則 | 探針法 |
輸入 | R 測頭，MFW 250 |
測量范圍 mm | (in Z) 50 mm |
掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， |
采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右（可在 MarSurf XC 20 中設置） |
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